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EDX8000是一款快速，準(zhǔn)確且經(jīng)濟(jì)高效的XRF熒光光譜分析儀，已用于分析各種金屬塑料及電子材料中的鉛（Pb），鎘（Cd），砷（As），汞（Hg），鉻（Cr）和其他有毒有害元素。它提供的元素檢測(cè)下限（通常2ppm）滿足RoHS法規(guī)對(duì)于材料中元素限制的含量標(biāo)準(zhǔn)。EDX8000適用范圍廣泛，可應(yīng)用于金屬/塑料/土壤/玩具/電子電器/汽車等多種行業(yè)檢測(cè)。也可檢測(cè)粉狀、板狀、線狀等各種規(guī)則與不規(guī)則樣品

EDX8000是一款快速，準(zhǔn)確且經(jīng)濟(jì)高效的XRF熒光光譜分析儀，用于分析各種金屬塑料及電子材料中的有毒金屬和其他有毒有害元素。它提供的元素檢測(cè)下限（通常2ppm）滿足RoHS法規(guī)對(duì)于材料中元素限制的含量標(biāo)準(zhǔn)。EDX8000適用范圍廣泛，可應(yīng)用于金屬/塑料/土壤/玩具/電子電器/汽車等多種行業(yè)檢測(cè)。也可檢測(cè)粉狀、板狀、線狀等各種規(guī)則與不規(guī)則樣品，可在各種工業(yè)生產(chǎn)或商業(yè)環(huán)境下使用。

Compass 200能量色散X射線熒光（EDXRF）光譜儀實(shí)現(xiàn)了快速、準(zhǔn)確分析土壤中的有害金屬元素Pb（鉛），As（砷），Cd（鎘），Hg（汞），Cu（銅），Ni（鎳），Zn（鋅），Cr（鉻）等，能夠?qū)崟r(shí)現(xiàn)場(chǎng)對(duì)廠區(qū)、礦區(qū)、重工業(yè)區(qū)周邊的環(huán)境進(jìn)行監(jiān)測(cè)，從而進(jìn)行控制排放和污染治理。操作人員可以直接用Compass 200來(lái)分析現(xiàn)場(chǎng)的土壤樣品，在短時(shí)間內(nèi)就可以取得和實(shí)驗(yàn)室同樣的分析效果。

作為一款立式高性能X射線熒光（EDXRF）材料分析儀，EDX8800M MAX配置了高功率X射線激發(fā)系統(tǒng)，同時(shí)搭配了高計(jì)數(shù)率和高分辨率的FSDD探測(cè)器，它提供了出色的線性動(dòng)態(tài)范圍，可在金屬、水泥、礦物、采礦、玻璃和陶瓷中實(shí)現(xiàn)更高精度的過程和質(zhì)量控制。主要應(yīng)用于在第三方實(shí)驗(yàn)室及各種需要進(jìn)行高精度材料成分分析的場(chǎng)所。專注于對(duì)各種材料的主量，微量和痕量元素或化合物進(jìn)行定性和定量分析。

作為一款立式高性能X射線熒光（EDXRF）材料分析儀，EDX8800M MAX配置了高功率X射線激發(fā)系統(tǒng)，同時(shí)搭配了高計(jì)數(shù)率和高分辨率的FSDD探測(cè)器，它提供了出色的線性動(dòng)態(tài)范圍，可在金屬、水泥、礦物、采礦、玻璃和陶瓷中實(shí)現(xiàn)更高精度的過程和質(zhì)量控制。主要應(yīng)用于在第三方實(shí)驗(yàn)室及各種需要進(jìn)行高精度材料成分分析的場(chǎng)所。專注于對(duì)各種材料的主量，微量和痕量元素或化合物進(jìn)行定性和定量分析。

材料的鍍層厚度是一個(gè)重要的生產(chǎn)工藝參數(shù)，其選用的材質(zhì)和鍍層厚度直接影響了零件或產(chǎn)品的耐腐蝕性、導(dǎo)電性、產(chǎn)品的可靠性和使用壽命，因此，鍍層厚度的控制在產(chǎn)品質(zhì)量、過程控制、成本控制中都發(fā)揮著重要作用。英飛思開發(fā)的EDX8000T Plus鍍層測(cè)厚儀是專門針對(duì)于鍍層材料成分分析和鍍層厚度測(cè)定。其主要優(yōu)點(diǎn)是準(zhǔn)確，快速，無(wú)損，操作簡(jiǎn)單，測(cè)量速度快?？赏瑫r(shí)分析多達(dá)五層材料厚度，并能對(duì)鍍層的材料成分進(jìn)行快速鑒定